射頻抗擾度測(cè)試簡(jiǎn)介
射頻(RF)頻譜變得越來(lái)越擁擠,因?yàn)轭A(yù)期更多的電子設(shè)備與多種無(wú)線電發(fā)射器一起工作或共存,現(xiàn)在,特別是在城市地區(qū)的許多地方都有許多固定發(fā)射機(jī),這些發(fā)射機(jī)有助于該地區(qū)的現(xiàn)場(chǎng)優(yōu)勢(shì)。
產(chǎn)品制造商不太可能知道或控制其產(chǎn)品的實(shí)際使用位置,并且應(yīng)該期望產(chǎn)品在他們合理可能遇到的任何環(huán)境中正常工作。
EMC指令要求所有投放市場(chǎng)的產(chǎn)品必須具有足夠的RF抗擾度。但是,為了區(qū)別于競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手,制造商應(yīng)該采用這一標(biāo)準(zhǔn)來(lái)提高產(chǎn)品質(zhì)量,無(wú)論該指令是否得到執(zhí)行。
射頻抗擾度測(cè)試的目的是使產(chǎn)品受到受控的射頻應(yīng)力,該應(yīng)力代表在其操作環(huán)境中可能遇到的應(yīng)力水平,其頻率范圍主要取決于實(shí)際問(wèn)題和現(xiàn)實(shí)問(wèn)題的經(jīng)驗(yàn)。 。測(cè)試方法分為通過(guò)傳導(dǎo)耦合施加應(yīng)力和通過(guò)輻射場(chǎng)耦合。
怎么進(jìn)行射頻抗擾度測(cè)試
1.電纜測(cè)試是檢查RF敏感性的重要方法,IEC 61000-4-6規(guī)定了測(cè)試方法。用于測(cè)試的頻率為150kHz至80MHz,任何電纜RF注入測(cè)試方法都應(yīng)該要求定義遠(yuǎn)離EUT的電纜末端的共模阻抗。
2.每種類(lèi)型的電纜應(yīng)在其遠(yuǎn)端具有共模解耦網(wǎng)絡(luò),以確保相對(duì)于接地參考平面(GRP)的阻抗,并使任何輔助設(shè)備與電纜上的RF電流的影響隔離。有幾種方法可以將RF耦合到測(cè)試設(shè)備中。
他們是:
a)耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)(CDN)
b)EM鉗位 - 由兩個(gè)不同等級(jí)的分裂鐵氧體環(huán)組成,可以?shī)A在待測(cè)電纜上,因此無(wú)創(chuàng),可用于任何類(lèi)型的電纜。
c)電流注入探頭 - 電流探頭是夾式電流互感器,可應(yīng)用于任何電纜,它是屏蔽的,因此僅應(yīng)用電感耦合,而不需要測(cè)試信號(hào)的電容耦合。
測(cè)試應(yīng)該很好地解耦,以防止任何干擾影響其他設(shè)備,這些可以通過(guò)主電源或直接耦合到引線耦合出設(shè)置。
盡管CDN將降低其AE端口的噪聲和電纜阻抗的變化,但它并不能完美地實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn),并且建議在測(cè)試環(huán)境的主電源處安裝RF濾波器。其他電纜應(yīng)保持在測(cè)試環(huán)境的本地,或者如果它們離開(kāi)則過(guò)濾到地面參考平面。
環(huán)境輻射信號(hào)也應(yīng)該衰減,通常在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行測(cè)量,房間的地板形成地面參考平面。
輻射射頻抗擾度測(cè)試
1.使用的輻射RF抗擾度標(biāo)準(zhǔn)是IEC 61000-4-3,這需要使用預(yù)校準(zhǔn)場(chǎng)的屏蔽消聲外殼中的天線產(chǎn)生的輻射射頻場(chǎng),掃描范圍為80MHz至1000MHz,步長(zhǎng)不超過(guò)基波的1%,停留時(shí)間足以使被測(cè)設(shè)備響應(yīng)。
2.被測(cè)設(shè)備放置在0.8米高的木桌上(用于桌面設(shè)備),其正面與先前校準(zhǔn)的均勻場(chǎng)區(qū)域在同一平面上。
3.天線位置和均勻區(qū)域都相對(duì)于腔室固定。該標(biāo)準(zhǔn)要求至少1米的連接電纜長(zhǎng)度暴露在現(xiàn)場(chǎng),并建議使用鐵氧體扼流圈來(lái)分離較長(zhǎng)的電纜。通常不能電纜布局,但是至少一些長(zhǎng)度應(yīng)該與天線的一個(gè)極化處于同一平面中。
4.被測(cè)設(shè)備在工作臺(tái)上旋轉(zhuǎn),使其四個(gè)側(cè)面中的每一個(gè),如果可以任何方向使用,則頂部和底部依次面向天線,并與均勻區(qū)域共面。對(duì)于每個(gè)方向,在頻率范圍內(nèi)執(zhí)行兩次掃描,每個(gè)天線極化一次。
5.如果頻率以1%的步長(zhǎng)從80到1000MHz掃描,每步的常規(guī)小停留時(shí)間為3秒,每次掃描大約需要15分鐘,整個(gè)測(cè)試需要花費(fèi)兩個(gè)多小時(shí)。
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